基本信息
| 标准名称： | 钇铁石榴石单晶磁性薄膜磁特性的测量方法 |
| 英文名称： | Measurement of magnetic properties of YIG single crystal magnetic-films |
| 中标分类： | 电子元器件与信息技术 >> 电子设备专用材料、零件、结构件 >> 电子技术专用材料 |
| 发布日期： | 1999-08-26 |
| 实施日期： | 1999-12-01 |
| 首发日期： | 1900-01-01 |
| 作废日期： | 1900-01-01 |
| 出版日期： | 1900-01-01 |
| 页数： | 13页 |
适用范围
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前言
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目录
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引用标准
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所属分类： 电子元器件与信息技术 电子设备专用材料 零件 结构件 电子技术专用材料